생각하는 공대생

1. 정의 AFM은 Atomic Force Microscope의 약자로써 탐침(probe)을 통해 스캔한다는 의미의 SPM(Scanning Probe Microscope)의 일종이다. Probe와 시료사이의 간격이나 상호작용에 의하여 달라지는 반데르발스 힘(Van Der Waals Force)에 의하여 probe가 움직이게 된다. 절연된 미세한 탐침을 절연 시료 표면에 원자 단위의 미세한 크기까지 근접시키면 양자의 원자간에 힘이 작용하게 되고 원자간의 힘을 측정하는 방식으로 표면의 원자 구조와 형태를 측정하는 현미경이다. STM이나 SEM과는 다르게 전자의 이동과는 무관하며 따라서 시료표면에 금속을 증착시키는 일을 하지 않아도 되며 진공장치가 필요 없다. 광학현미경과 전자현미경의 뒤를 잇는 제3세대 현미..

1. 정의 주사전자현미경은 SEM이라고도 한다. SEM은 Scanning Electrone Microscope의 약자로 sample의 표면을 전자빔을 통해 scan하여 image화 시키는 전자현미경의 일종이다. 고속의 전자를 발사하면 이 전자가 시료표면에 충돌하면서 상호작용하여 시료에서 전자와 같은 물질이 튀어나오는데, 이를 분석하는 방법이다. 전자 현미경은 원리적으로나 구조적으로나 광학 현미경과 근본적으로 다르다. 가장 큰 차이점은 전자 현미경은 빛 대신 전자선을 사용한다는 것이다. 광학 현미경은 유리렌즈를 사용하여 상을 만드는데, 전자선은 유리를 통과하지 못하기 때문에 전자 렌즈를 쓴다. 전자 렌즈는 전자석으로 자계를 만들어 이것으로 전자선을 수렴 또는 발산시키는 장치이다. 특히 SEM은 시료에 건조..