ADI, ACI 그리고 Skew (Etch Bias)는 반도체 8대 공정 중 포토공정(Photolithograpy) 그리고 식각(Etching) 공정과 관련된 용어이다.우선 CD란 Critical Demension의 약자로, 쉽게 말해 패턴의 Size (길이, 간격 등)를 의미한다.1) ADI (After Development Inspection) 포토 공정 중 현상(Development) 직후에 감광액(PR, Photoresist)이 남아 있을때, 해당 패턴의 선폭과 정렬 상태를 검사하는 단계이다. 이때 측정한 선폭을 ADI CD라고 함. 2) ACI (After Cleaning Inspection) 식각(Etch) 공정과 PR 제거 및 세정(Cleaning)까지 마친 후 하부 박막이 실제로 잘 깎였는..