생각하는 공대생

1. 정의 AFM은 Atomic Force Microscope의 약자로써 탐침(probe)을 통해 스캔한다는 의미의 SPM(Scanning Probe Microscope)의 일종이다. Probe와 시료사이의 간격이나 상호작용에 의하여 달라지는 반데르발스 힘(Van Der Waals Force)에 의하여 probe가 움직이게 된다. 절연된 미세한 탐침을 절연 시료 표면에 원자 단위의 미세한 크기까지 근접시키면 양자의 원자간에 힘이 작용하게 되고 원자간의 힘을 측정하는 방식으로 표면의 원자 구조와 형태를 측정하는 현미경이다. STM이나 SEM과는 다르게 전자의 이동과는 무관하며 따라서 시료표면에 금속을 증착시키는 일을 하지 않아도 되며 진공장치가 필요 없다. 광학현미경과 전자현미경의 뒤를 잇는 제3세대 현미..

기본식 (The Fundamental equation) 열역학 제1법칙과 제2법칙은 물질의 성질을 표현하는 열역학의 기본 법칙들 중 하나이다. 이 두 법칙을 결합하여 하나의 식을 만들어 보자. 열역학 제1법칙은 식으로 로 표현 할 수 있다. 닫힌계에서 비팽창 일이 포함되지 않은 가역적 변화가 일어날 때 dw와 dq는 다음과 같이 각각 쓸 수 있다. (w = 일, q = 열, p = 압력, T = 온도, V = 부피, S = 엔트로피)(rev는 reversible로 가역적 변화) 이를 에 다시 대입을 해주면 아래와 같이 식을 다시 쓸 수 있다. 이 식을 기본식(Fundamental equation)이라고 한다. 이 식에서 dU는 완전 미분인데, 이것은 다시말해서 dU는 상태함수이므로 변화가 가역적이든 비가..